以色利OFIL紫外成像仪为什么要进行检查电晕放电造成的损害
电晕放电表明：
糟糕的硬件设计
硬件安装不正确
硬件损坏
硬件污染
腐蚀硬件
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电晕放电造成的损害
电晕放电有多种损坏模式：
1.可听噪音和无线电干扰
电晕放电会产生标志性的嗡嗡声，这实际上并没有破坏性，但可能会刺激附近的人类和动物。如果谐波产生正干扰，则会导致导体振动。
无线电干扰不太可能直接造成损坏，但它可能会导致电子设备无法正常工作或运行不稳定，从而导致设备损坏。以色利OFIL紫外成像仪为什么要进行检查电
晕放电造成的损害
2.紫外线
电晕放电产生的紫外光将导致聚合物硬件加速老化，进而导致硬件比预期更早失效。
紫外线也会影响各种动物，它们可以看到紫外线范围。
这导致了驯鹿迁徙的问题。
3.电离
电离过程从电晕放电开始：
电晕是一种局部放电，电子发射到空气中。电子发射的机理属于物理领域。
整个过程始于宇宙射线电离高压硬件周围空气中的单个分子，使电子偏离轨道。
在这个阶段，碰撞使分子被激发。分子想要回到它的中性状态，它通过释放多余的能量作为光子来实现。光子的频率取决于被激发分子的原子和键类型。
在此过程中释放的自由电子在其负相期间被硬件周围的电场排斥，在正相期间被吸引。
如果斥力将电子推到足够高的速度，那么在与另一个空气分子碰撞时，它将导致不止一个电子被踢出。
当两个或两个以上的电子被碰撞释放时，就形成了雪崩。
雪崩将持续下去，直到电场强度降低到不能将电子加速到足以在碰撞过程中释放电子的速度为止。以色利OFIL紫外成像仪为什么要进行检查电晕放电造成的损害
在N2（我们周围空气的主要成分）的情况下，发射的光频率主要在400nm以上仅5%的UV范围内，这被认为是可见蓝色的*低端。
N2荧光的光谱，在垂直拉伸1000倍之后。
电离的分子也可以与其他分子合并以共享其剩余的电子。
即
O2+e-=2O-
O-+O2=O3（O区）
O型区非常活泼，会氧化金属，导致生锈。
N2&O2+e-=2N++2O-
N++5O-=NO2+O3
NO2+H2O+O2=HNO3
硝酸在硬件上表现为白色灰尘。
硝酸会去除金属零件上的镀层，并腐蚀所有零件上的涂层。以色利OFIL紫外成像仪为什么要进行检查电晕放电造成的损害
电离活动可形成多种其他分子，即
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2.碳酸
探测电晕放电
臭氧层只允许一些频率以不同的体积通过。
在280nm以下，N2荧光发出的光是可见的。这就是所谓的日盲区。
为了能够以一种有用的方式可视化和可见图像，必须使用2种类型的摄像机以及合适的光学元件。
检测到的UV图像叠加在可见图像上，以显示放电发生的位置。紫外斑点为假彩色，以便观察
评估概述以色利OFIL紫外成像仪为什么要进行检查电晕放电造成的损害
一旦发现放电，用户的直接问题是：“这是一个重要故障吗？”。
这不是一个完全正确的问题，所有的错误在某种程度上都很重要。问题应该是：“该故障的维护优先级是什么？”区别在于，故障可能很重要，但可能不需要立即注意，因为存在更严重的故障，或者预期的故障时间将导致在下一个现场维护日期之后很久的故障。
接下来的问题是如何分配维护优先级？许多用户立即查看相机获得的“计数”，但这是不正确的，因为计数不容易比较（由于影响计数的因素很多）。如果将计数重新计算到标准状态，则计数充其量可用作检查时的损坏率指示器。计数根据环境天气而变化，这也意味着计数不能作为趋势练习的一部分使用——除非可以在完全相同的条件下进行检查——可能性非常小。
分配维护优先级的*可靠方法是使用美国电力研究所（EPRI）开发的维护优先级评级系统。系统根据放电损坏其所处或附近硬件的能力、物理损坏的存在
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