OFIL紫外成像仪非陶瓷绝缘体中的缺陷的早期检测
目前，非陶瓷绝缘子有多种设计、材料、配方和制造工艺。虽然这在为用户提供选择方面是有益的，但这也意味着在出现问题的情况下，故障模式可能会有所不同。众所周知，NCI中的大多数问题都源于接口。如果装置不是单件制造的，则此类绝缘体的关键接口在棒和外壳之间、硬件棒外壳和不同外壳棚之间。OFIL紫外成像仪分公司|OFIL紫外成像仪总代理|OFIL紫外成像仪代表处|OFIL紫外成像仪总公司|OFIL紫外成像仪办事处|在哪里
界面处电晕的存在导致护套损坏，暴露玻璃纤维杆，跟踪杆，从而通过界面闪络、杆燃烧和脆性断裂导致绝缘子失效。此外，任何污染物如水、盐和污垢的存在都会加剧这些位置的磁场。示出了故障NCI的图片。可以看出，*初的几个棚屋遭受了电晕切割。还可以看到以痕迹和侵蚀形式出现的一些退化。如果绝缘子损坏不在视线范围内，则在通过道路或直升机巡逻进行例行线路检查时，可能不会将其确定为问题，直到装置出现故障。面临的挑战是在退化的早期阶段识别此类绝缘体，而此时仍有时间采取行动。OFIL紫外成像仪非陶瓷绝缘体中的缺陷的早期检测
了解电场分布在绝缘子设计中起着至关重要的作用，也有助于检测内部缺陷。在陶瓷绝缘子中，由于中间金属部件的存在，电压分布相对更为线性。该材料不会因电晕而降解，因此电晕在陶瓷绝缘子中通常不是问题。然而，在NCI中，电压分布高度不均匀，并可能导致电晕。电晕环通常用于电压高于230 kV的NCI，以降低线路端部附近的电场。OFIL紫外成像仪非陶瓷绝缘体中的缺陷的早期检测
*近有几份出版物得出结论认为，对于非陶瓷绝缘体中的缺陷的早期检测，没有简单易行的方法。检查的方法包括局部放电检测、红外热成像、电晕和可听噪声检测、泄漏电流测量和电场测量[1]。在实用环境中，电场技术越来越多地被用作一种诊断工具，用于识别有缺陷的瓷件[2,3]。将其用于非陶瓷绝缘体似乎是合乎逻辑的步骤。通过这种测量可以检测到哪些类型和程度的缺陷？这项研究就是为了回答这个问题。以健康绝缘子的电场分布为参考。
建模的缺陷类型：对NCI上可能出现的几种类型的缺陷进行了建模。被认为难以检测但至关重要的各种类型的缺陷被纳入健康模型并进行模拟。这些缺陷的大小、位置和导电性各不相同。记录沿探头路径靠近缺陷位置的字段值。然后将这些值与在健康情况下获得的值进行比较。目前使用的电场探头对高于2 kV/m的电场值非常敏感[2]。因此，产生2 kV/m及以上差异的缺陷被视为可检测，而其他缺陷则被视为不可检测。由此获得的现场值差异作为棚数的函数绘制。为更好地了解缺陷检测的可能性，在上图中拟合了对数趋势线。OFIL紫外成像仪非陶瓷绝缘体中的缺陷的早期检测
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考虑了各种类型的缺陷，如棚、柄、接口、端部配件外部轨道和杆套接口上的轨道上出现的缺陷。在仔细的目视检查过程中，可以观察到大多数外部缺陷。但是，壳体内部出现的缺陷不可见。因此，此类缺陷被建模用于电场畸变研究，以验证使用表1所示的场探头检测此类缺陷的可能性。任何两个连续棚之间距离出现的缺陷称为单棚缺陷。单个脱落缺陷的形状为圆柱体，高度为9.2 cm，直径为5 mm。显示了各种类型的单棚缺陷模型的图解表示。同样，模拟和分析了两棚和三棚缺陷。
缺陷类型描述
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