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OFIL紫外成像仪公司介绍电晕放电可能对非陶瓷绝缘子的完整性构成重大威胁

OFIL紫外成像仪公司介绍电晕放电可能对非陶瓷绝缘子的完整性构成重大威胁

由于外壳材料的有机性质,电晕放电可能对非陶瓷绝缘子(NCI)的完整性构成重大威胁,对于输电级绝缘子(69 kV及以上),电晕不仅在污染环境中,而且在清洁环境中也是一个问题。根据世界范围的经验,已确定大多数NCI应用处于相对清洁或轻度污染的条件下。在NCI上,由于硬件设计不充分、硬件损坏以及由于设计和/或制造不当而导致的接口缺陷,电晕可能会在本地长期存在。OFIL紫外成像仪分公司|OFIL紫外成像仪总代理|OFIL紫外成像仪代表处|OFIL紫外成像仪总公司|OFIL紫外成像仪办事处|在哪里

对230 kV和500 kV绝缘子的现场检查证实,即使在相对干燥和清洁的条件下,也存在电晕。在实际高压系统中,现场很难避免电晕,尤其是在潮湿和污染条件下。所以,了解电晕放电的大小和外壳材料的损伤阈值是至关重要的。由于带电粒子的撞击、紫外线(UV)辐射和臭氧的释放,电晕会产生多种效应,如机械效应。生成高度氧化和水合的氮氧化物,这些氮氧化物在水分中溶解时会形成酸。外壳上的任何裂缝都可能使玻璃纤维芯受潮。外露杆可能因跟踪、侵蚀或脆性断裂而失效,导致过早失效。因此,有必要定期检查NCI并及时更换劣化绝缘子。OFIL紫外成像仪公司介绍电晕放电可能对非陶瓷绝缘子的完整性构成重大威胁

降解聚合物的表征:
(i) 傅里叶变换红外光谱
FTIR是识别有机材料中不同类型化学键的有力工具。分子键以不同的频率振动,这取决于元素和键的类型。对于给定的键,有几个特定的频率可以振动。材料吸收的光的波长是化学键的特征,吸收强度与键的浓度成正比。OFIL紫外成像仪公司介绍电晕放电可能对非陶瓷绝缘子的完整性构成重大威胁
(二)激光**
目前人们对激光用于科学研究和工业应用的兴趣与激光的独特特性直接相关。激光实现的高空间相干性允许在高能量密度下进行极端聚焦和定向辐照。激光的单色性及其可维持性开启了高选择性窄带激发的可能性[12]。
激光与物质之间的相互作用机制取决于激光束的参数和材料的物理化学性质。激光参数包括波长、强度、时空相干性、偏振和入射角。这种材料的化学成分和微观结构决定了基本激发的类型以及它们之间的相互作用。传统的激光加工主要采用红外激光进行。这可以激发金属内的自由电子或绝缘体内的振动。一般来说,与过程中涉及的任何其他时间相比,激发能在短时间内以热的形式耗散。因此,对于低强度和中等强度,激光束只能被视为热源,导致材料表面和大部分温度升高这在图1中示意性地示出。OFIL紫外成像仪公司介绍电晕放电可能对非陶瓷绝缘子的完整性构成重大威胁
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图1:激光热处理
温度分布由材料的热学和光学性质决定。当激光强度(I)达到临界值(Iv)时,超过该临界值,材料会发生显著汽化,形成蒸汽羽流,如图2所示。图2。用激光对材料进行热处理(I>Iv)
图2:材料的激光热处理(I>Iv)
随着强度的进一步增加,羽流中的物种数量增加,激光与蒸汽之间的相互作用变得非常重要。这些导致物种电离。蒸汽也可以适当地表示为等离子体
结果与分析

(i) 硅橡胶硅橡胶样品经过500小时的电晕暴露。一根带有**(约0.02 cm)的铜棒,由交流电压供电,用作电晕源(点平面电极配置)。电极布置封闭在尺寸为45cm x 45cm x 120cm的丙烯酸室中。使用示波器(Tektronix 540C型)和电晕照相机监测电晕活动。通过材料表面的视觉变化、光学显微镜、FTIR光谱和激光处理技术对电晕引起的降解进行量化。傅里叶变换红外光谱


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