OFIL紫外成像仪监测电气和环境因素引起的绝缘子材料退化老化做到可控
NCI老化-环境因素OFIL紫外成像仪监测电气和环境因素引起的绝缘子材料退化老化做到可控
陶瓷和玻璃绝缘子因其重量轻、耐污染和耐破坏性强以及安装成本较低而被复合绝缘子取代。然而，由于老化过程，它们的使用寿命较短。衰老是一个自然过程，虽然无法停止，但仍然可以控制。紫外成像仪正被电气工程师用来识别这些过程，控制它们，防止重大损坏。特别是，全日盲紫外成像仪非常有效，因为它们可以清楚地看到和记录现有问题和/或发展中问题的指示。OFIL紫外成像仪分公司|OFIL紫外成像仪总代理|OFIL紫外成像仪代表处|OFIL紫外成像仪总公司|OFIL紫外成像仪办事处|在哪里
NCI的设计
典型的复合绝缘子由2个主要部件组成：OFIL紫外成像仪监测电气和环境因素引起的绝缘子材料退化老化做到可控
杆–由玻璃纤维增强树脂（GFR）制成的主要承重部件，其上连接有两个金属端部配件
外壳–提高绝缘体对环境应力的抵抗力。常见的外壳材料有EPDM、SIR和这两种材料的混合物。
绝缘子的形状因其棚的设计、数量和尺寸而异，这些设计、数量和尺寸与所需的泄漏距离和污染性能相对应。
老龄化的定义和因素
NCI老化是指由电气和环境因素引起的绝缘子材料退化。降解是大分子的分解，导致分子量减少。虽然可以控制电应力，但必须考虑不可控制的环境影响。
电应力-电晕、干带、电弧、表面粗糙度和侵蚀OFIL紫外成像仪监测电气和环境因素引起的绝缘子材料退化老化做到可控
环境影响-热、光、紫外线辐射、水分、大气压力、微生物引起的生物降解
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生物学的
聚合物绝缘体由有机材料制成，易受微生物活动的影响。微生物对聚合物绝缘体有5种主要影响：
污染-可能干扰外壳材料的功能和特性，增加表面导电性
外壳材料的降解
导致材料快速降解的腐蚀
水在材料中的水合作用或渗透会降低机械稳定性，并导致短路，从而导致完全失效
无法通过清洁去除的变色OFIL紫外成像仪监测电气和环境因素引起的绝缘子材料退化老化做到可控
化学污染物（二氧化硫、臭氧和二氧化氮）
二氧化硫是工业区常见的一种污染物，含有气体废物，在绝缘体表面形成长丝，导致闪络。臭氧是一种不稳定的氧同素异形体，被认为是一种对所有物质都有破坏性影响的空气污染物。NO2是一种重要的空气污染物，是高压线路电晕诱导硝酸合成的中间产物。硝酸溶解复合材料，导致其降解。
环境应力（热、光、水分、风、灰尘、降水和日冕紫外线）
紫外线是导致聚合物绝缘体劣化的主要因素之一。紫外线的主要来源是太阳和日冕现象，在此期间，紫外线被发射出来。紫外线会影响外壳材料的介电和风化性能，并导致化学降解、表面劣化和电应力，直到绝缘体无法使用为止。紫外线对聚合物材料的影响表现为龟裂、粉化、开裂、变色。雨、雾和雾可导致足够高的局部电场，从而使电晕局部放电因润湿不均匀而发展。热、光和湿气会导致表面开裂、侵蚀和腐蚀。风和灰尘会使绝缘材料因可溶成分的损失而变得粗糙或开裂，从而使绝缘材料发生物理变化。雨水和盐会使表面变为亲水性，使水渗入裂缝，导致材料击穿，并沿杆下闪光。
环境影响通常分为负担得起或负担不起：
负担得起的效果
失去光泽和变色>–通常这是绝缘体老化的**个迹象
粉化–粗糙和白色粉末的外观。造成粉化的因素是紫外线辐射和电活动。在粉刷过程中，从表面去除少量橡胶，露出填充材料（白色粉末材料），使绝缘体呈现粉刷状外观。
龟裂–由于电应力，绝缘子表面出现浅裂纹（小于0.1mm）
憎水性丧失——失去了对水膜形成的抵抗力，从而出现电晕和电弧活动
短吻鳄——一种更严重的开裂形式。它会降低污染性能，并可能导致杆暴露。
负担不起的影响
电晕切割–电晕放电引起的切割。这些放电使绝缘体暴露在严重的电气和化学降解下。
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